Оборудование:

1. ИК-Фурье спектрометр SPECTRUM 100 (PERKIN ELMER, США)
2. Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro — M (NT-MDT, Россия)
3. Растровый электронный микроскоп CAMSCAN — S4 с энергодисперсионной и волнодисперсионной приставками: Oxford INCA Еnergy 350 и INCA Wave 700. (Саmbrige, Англия)
4. Вторично-ионный масс спектрометр CAMECA IMS 4f (CAMECA, Франция)
5. Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 20 S-TWIN (FEI Company/Philips Electron Optics, Нидерланды)
6. Растровый Оже-микроанализатор PHI-660 (PERKIN ELMER, США)
7. Профилометр Alpha-Step 200  (Tencor Instruments)

124460, Москва, г. Зеленоград, ул. конструктора Гуськова, дом 5.

Тел: +7 (499) 214-01-14,          Электронная почта: admin@niifp.ru,

Факс: +7 (499) 731-55-92.                                    kozlitin50@mail.ru.